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SunScan植物冠層分析儀的原理及特點分析

發布時間： 2019-03-05　　點擊次數： 1309次

　　SunScan植物冠層分析儀的原理及特點分析
　　SunScan植物冠層分析儀為一體化設計，包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單，體積小，攜帶方便。存儲介質為市場上通用的SD卡，存儲容量大，數據管理方便！在功耗上有合理的電源管理方案，測試過程中儀器根據實際情況自動進入待機狀態，需要時按喚醒鍵即可喚醒屏幕，觀察實際數據。測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔至少為1分鐘，自動測量次數大99次，手動測量根據實際需要手動采集即可。可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄，測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。
　　SunScan植物冠層分析儀的原理：
　　任何物質都具有發射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發送或反射，物質的特性就能被確定。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR)區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。SunScan植物冠層分析儀采用可見/近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術，可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、植物養分信息、土壤養分信息、環境參數、植物病蟲害程度等。儀器為8通道通用光譜檢測分析儀，可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器，用戶可以根據實際須要定制不同波段的濾光片進行光譜檢測。儀器自帶8個波段的濾光片，主要中心波段為：540nm,650nm,680nm,730nm,810nm,940nm,1100nm,內置傳感器自動校正模塊。
　　SunScan植物冠層分析儀功能特點：
　　1、無損測量葉面積指數、葉片平均傾角以及冠層結構。
　　2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構。
　　3、攝像頭可自動保持水平。
　　4、USB接口，測量時連接電腦實時查看圖像，即時選取所需圖像并保存。
　　5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。
　　6、測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。
　　7、配有分析軟件，有選擇所需圖像區域的功能（天頂角可分10區，方位角可分10區），SunScan植物冠層分析儀可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區域進行分析，使測量數據更加。

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